Electromigration In Ulsi Interconnections

Gebonden EN 2010 9789814273329
Verwachte levertijd ongeveer 16 werkdagen

Samenvatting

Presents a description of the electro migration in integrated circuits. This book examines the various interconnected systems and their evolution employed in integrated circuit technology. It is suitable for readers on electro migration in ULSI interconnections.

Specificaties

ISBN13:9789814273329
Taal:EN
Bindwijze:Gebonden
Aantal pagina's:312
Uitgever:World Scientific Publishing Co Pte Ltd

Lezersrecensies

Wees de eerste die een lezersrecensie schrijft!

Managementboek Top 100

Rubrieken

    Personen

      Trefwoorden

        Electromigration In Ulsi Interconnections